SurfaceSeer系列飞行时间二次离子质谱仪

SurfaceSeer-I能以正负TOF-SIMS模式产生“化学地图”，其分析的空间分辨率约为0.5微米，质量分辨率优于3000（3000以上）。

SurfaceSeer-S是以正负TOF-SIMS模式进行分析研究的“利器”，质量分辨率优于2500（2500以上）。

The SurfaceSeer-S: 用TOF-SIMS做表面分析

• 极高的表面分析灵敏度Very high surface sensitivity (1x10⁹ atoms/cm² )

• 易于使用 (1/2天培训即可)

• 导体和绝缘体表面Conducting and insulating surfaces

• 正负离子的SIMS Positive and Negative SIMS

• 分辨率>2500 M/ΔM，用飞行时间反射质量分析器

• 质量范围：>1000m/z

• 质量准确度 ± 5mamu.

• 分析区域面积 ~75um - 500um

• 获得元素和分子信息

• 从元素中分离出常见的有机物Separates common organics from elements

• 同位素分析Isotopic analysis

• 溅射净化能力 Sputter cleaning capability

• 从大气压下准备5分钟，即可分析样品 5 minute sample pump down from atmosphere

• 分析时间：1分钟  1 minute analysis；样品处理流程<7分钟

• 可负担，高性价比 Affordable

• 功能可扩展 Expandable

• 提供材料数据库 Data libraries available

The SurfaceSeer-I: Imaging Surface Analysis by TOF-SIMS

• 极高的表面分析灵敏度 (1x10⁹ atoms/cm² )

• 易于使用 (1天培训)

• 导体和绝缘体表面Conducting and insulating surfaces

• 正负离子的SIMS Positive and Negative SIMS

• 分辨率：>3000 M/ΔM，用飞行时间反射质量分析器

• 质量范围：>1000m/z

• 质量准确度： ± 5mamu.

• 空间分析分辨率：0.5µm

• 获得元素和分子信息

• 从元素中分离出常见的有机物Separates common organics from elements

• 同位素分析Isotopic analysis

• 溅射净化能力 Sputter cleaning capability

• 从大气压下准备5分钟，即可分析样品 5 minute sample pump down from atmosphere

• 分析时间：1分钟  1 minute analysis

• 可负担，高性价比 Affordable

• 功能可扩展 Expandable

• 提供材料数据库 Data libraries available