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XOS E-max 重金属分析仪

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XOS土壤测定仪, E- max采用的高清X射线荧光(HDXRF)技术:与传统能量色散X射线荧光技术(EDXRF)相比,检测性能显著提升......

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创新技术

E- max采用的高清X射线荧光(HDXRF)技术:与传统能量色散X射线荧光技术(EDXRF)相比,检测性能显著提升。该技术使用先进的单色和聚焦光学器件大幅提高信噪比。示意图显示了HDXRF的基本配置及单色光聚焦激发原理。在该系统中,双曲面弯晶光学器件(DCC)将来自射线源的多色光转入单色光并有效聚焦到测量样品的小区域。

图四.png

稻米应用

E-max不但在基质复杂的土壤中重金属污染物检测方面表现非凡,在测量稻米等其他粉末时也同样能够达到卓越的精度,如图所示。表1中所列的使用E-max测量大米标准物质的重复性数据显示:稻米的定量下限低于法规规定的0.2ppm限值,粮食大米中镉元素检出下限:0.07mg/kg。E-max的检测水平可与湿化学方法媲美。

表一.png图三.png 


准确性

样品经聚焦后的单色光束激发发射荧光X射线。检测器对信号进行处理得出样品所含元素成分。鉴于土壤基质的复杂性,选取国家土壤和沉积物等标准物质,对其中Cd元素进行直接分析,图中数据表明HDXRF在高低镉含量检测均可提供精确的结果,包括污染物含量低于法规规定的限值0.3ppm。

 

 技术规格  

 

技术规格.jpg

 

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