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非球面透镜应力双折射测量系统

tel: 400-6699-117 1000

Hinds其它光学测量仪, 利用光弹调制器技术,Hinds 公司的应力双折射测量系统可以在深紫外(193nm)波段进行应力双折射探测。

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产品参数:

1.      可见光波段探测延迟范围:0 to 300+nm

2.      深紫外波段探测延迟范围:0 to 90+nm

3.      可见光波段应力探测精度:0.001nm / ±0.03 (up to 3nm, 1% thereafter) 

4.      深紫外波段应力探测精度:0.001nm / ± 0.08 nm (up to 4nm, 2% thereafter)

 


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