布鲁克 PI 85L电镜专用原位纳米力学系统

布鲁克Hysitron PI 85L是SEM专用的多用途、高灵敏度热学、电学和力学的测试系统，利用SEM的高分辨率，可以直接观测整个材料动态变化的过程。传统纳米压痕仪通过光学显微镜或原位扫描只能观察到压痕前及压痕后的形貌变化，中间过程无法观察到，载荷位移曲线上的一些突变我们无法解释，甚至单从曲线分析会导致错误的解释。

PI 85L安装于电镜，可以精确施加载荷，检测位移，在电镜下做压痕、拉伸、弯曲、压缩、加热、电学和划痕测试，可以借助电镜的高分辨率，观测并记录整个材料测试过程，观测材料在力下发生的动态变化，如金属蠕变、相变、断裂起始等。

PI 85L采用Hysitronzl技术三板电容传感器，具备载荷和位移同时监测和驱动的独特功能。具备业界领先的精度，重复性和低背景噪音等优点。PI 85L拥有多种特色测试功能模块可供选择，如动态力学测试、MEMS加热、拉伸测试、电学测试、纳米划痕等功能模块。

Hysitron PI 85L 

SEM PicoIndenter

原位定量纳米力学测试

布鲁克的扫描电镜系列PicoIndenter设备是能与扫描电镜（SEM）结合的深度感应纳米力学测试设备。它能在SEM成像的同时进行定量纳米力学测试。这两种技术联用使研究者能在极其精确的位置上测试，并实时观察形变过程。

高性能与多功能

该系统的样品台可容纳10mm厚的样品，在XYZ三方向运动范围均大于3mm。此外，样品台和传感器采用机械固定方式，提供了适用于纳米力学测试的稳定、刚性测试平台。这款精巧的设备还具有最大的样品台倾斜角和用于成像的最小工作距离。

与SEM成像同步的原位力学性能数据

PI 85L的原位力学数据采集是与SEM成像同步对应的。示例左侧力-位移曲线的不连续，对应着右侧FIB加工的铜-电介质复合悬臂的断裂。同步力学性能测试和SEM成像，有助于全面理解材料变形机制。

探索不同模式下的材料行为

PI 85L采用多种不同模式用于测试各种材料的基本力学特性，应力-应变行为，刚度，断裂韧性和形变机制等。

多种扩展功能

除了标配的测试模式外，PI 85L还能可以选配其它模块用于扩展功能，从加热选项到电特性表征，PI 85L能适应您的不同需求。

PI 85L SEM PicoIndenter特性

• 高级Performech®数字控制系统，反馈速率高达78kHz

• 适用于各种SEM，Raman和光学显微镜的精巧设计

• 静电力加载，电容位移传感器

• 纳米压痕、压缩、拉伸和弯曲测试模式

• 独有的Q-Control技术能有效降低震动

PI 85L SEM PicoIndenter是布鲁克专业原位纳米力学测试设备的下一代产品。它除了与SEM联用外，还适用于多种平台和环境。配备了布鲁克的电容传感器和超快78kHz反馈系统，它具有纳米尺度下优异的性能和稳定性。这款紧凑、精巧设计的设备完美适用于各种SEM，Raman和光学显微镜或加速器等。