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InP上镀InP/InGaAs/InP薄膜

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合肥科晶其它物性测试仪器, 薄膜InP:1um 厚;N型掺Si;Nc=~5E15/cc

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技术特点

【技术特点】-- InP上镀InP/InGaAs/InP薄膜

产品名称:

InP上镀InP/InGaAs/InP薄膜(dia3”InP/InGaAs/InP  EPI on InP <100>)

 

产品参数:

薄膜生长方法:MOCVD deposition

基底参数:N型掺S, InP:S [100]±0.5°, Nc=~5E18/cc 

薄膜InP:1um 厚;N型掺Si;Nc=~5E15/cc

薄膜In0.53Ga0.47As:3.0±0.5μm 厚; N型不掺杂, Nc=1E15-1E16/cc  

薄膜InP(top):1um thick InP film, N型掺Si, Nc=1E15-1E16/cc 

 

常规尺寸:

dia3” x650±25um

 

标准包装:

1000级超净室100级超净袋真空包装或者单片盒装



【技术特点对用户带来的好处】-- InP上镀InP/InGaAs/InP薄膜


【典型应用举例】-- InP上镀InP/InGaAs/InP薄膜



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