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Al2O3+Si薄膜(SOS)

tel: 400-6699-117 1000

合肥科晶其它物性测试仪器, Si晶向:<100> Si掺杂类型:本征;不掺杂 Si厚度:0.6um +/- 0.06 um Si电阻率:> 100 ohm.cm

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产品名称:

Al2O3+Si薄膜(SOS)进口料(大尺寸Silicon-on-Sapphire)

常规尺寸:

 dia100;单抛

 

技术参数:

Si晶向:<100>

Si掺杂类型:本征;不掺杂

Si厚度:0.6um +/- 0.06 um 

Si电阻率:> 100 ohm.cm

Al2O3基片:R plane with single flat

Al2O3尺寸:dia100 x 0.53 mm 

平面度(flatness):10um

平行性(Parallelism):20um

抛光情况:单抛Projected C-Axis: 45 degree +/- 2 degree

备注:可按照客户要求在C plane Al2O3上镀Si


厂家资料

地址:安徽省合肥市科学院路10号

电话:400-6699-117 转 1000

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