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Si+Si3N4薄膜

tel: 400-6699-117 1000

合肥科晶其它物性测试仪器, dia 4" +/- 0.5 mm x 0.525 +/- 0.025 mm......

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技术特点
【技术特点】-- Si+Si3N4薄膜

产品名称:

Si+Si3N4薄膜(进口料Silicon Nitride Film (PE-CVD) on Front Polished Side of Silicom Wafer P type doped B)

常规尺寸:

dia 4“ +/- 0.5 mm x  0.525 +/- 0.025 mm

标准包装:

 

技术参数:

 

1000级超净室100级超净袋真空包装、单片盒或插盒

 

Si参数:

 

晶向:<100>±0.5°;

掺杂类型:P型掺B;


电阻率:<0.02 ohm-cm;


抛光:单抛;


Si3N4参数:

 

生长方法:low stress PE-CVD method

薄膜厚度:100nm  +/- 8%


镀膜情况:Si3N4 covers front polished side of Silicon wafer ONLY




【技术特点对用户带来的好处】-- Si+Si3N4薄膜


【典型应用举例】-- Si+Si3N4薄膜


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地址:安徽省合肥市科学院路10号

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