产品型号:FR-Prob
品牌:孚光精仪
产品产地:德国
产品类型:进口
原制造商:孚光精仪
状态:在售
厂商指导价格: 2.3万元[人民币]
上市时间: 2015-02-04
英文名称: FR-Prob
优点:这款薄膜厚度测量系统平台是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪,可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器。
参考成交价格: 2.3万元[人民币]
仪器导购
其他推荐
厂家资料
地址:上海市黄浦区马当路159号新天地大厦
电话:400-6699-117 转 1000
经销商
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 薄膜厚度测量系统 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是,请告诉我们,我们的邮件地址是:sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
评论
我来点评售后服务
登记我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。
产品调查
查看标准
- IEC/TR 63258:2021 纳米技术.评估纳米薄膜厚度的椭偏仪应用指南
- IEC TR 63258:2021 纳米技术 用于评估纳米级薄膜厚度的椭圆偏光应用指南
- IEC TR 63258:2021 纳米技术.评估纳米薄膜厚度的椭偏仪应用指南
- KS B 4074-1972(2011) 椭偏仪
- PAS 1022-2004 检测材料及介电材料性质以及用椭偏仪测量薄膜层厚度的参考程序
- JJF 1932-2021 椭偏仪校准规范
- PD IEC TR 63258:2021 纳米技术 椭偏仪应用评估纳米级薄膜厚度的指南
- YS/T 839-2012 硅衬底上绝缘体薄膜厚度及折射率的椭圆偏振测试方法
- BS PD IEC TR 63258:2021 纳米技术 椭圆偏振法应用于评估纳米级薄膜厚度的指南
- GB/T 40577-2021 集成电路制造设备术语