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硅片厚度测量仪SIT-200

tel: 400-6699-117 1000

上海屹持光电技术有限公司其它光学测量仪, 硅片厚度测量仪(SIT-200)由精确可调激光光源,聚焦传感器,光学接收器组成。

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产品参数:

测量目标

硅片

测量厚度

10-500μm

光源

1515-1585nm扫描

功率

0.6mw,Class1

指示光源

红光,Class1M

测量时间

20ms

重复性

0.1μm

输出监控

干扰信号(电学)

PC接口

网口

供电

100-240V,50/60Hz

尺寸

364 x 147 x 391mm

重量

9kg



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