技术特点
【技术特点】-- TM系列专用能谱仪（EDS） Quantax75
操作简单且直观
* :和TM4000Plus搭配应用实例
* :探测器内置型
(制造商: 德国Bruker nano GmbH)
特点
通过简单操作即可迅速获取彩色X射线面分布
移动到指定位置，可实时确认其谱图
双屏显示
仅需选择图像和模板，即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同时，实时显示点分析、线分析结果等多种分析。
超高的性能（hyper map）成就了一次测试即可获取点分析、线分析、面分布结果
点分析
可根据点位置移动实时追踪谱图，轻松确认目标元素。
实时在线谱峰剥离面分布
分离出常规面分布图像中的谱峰重叠元素，并显示正确结果。
规格
検出器
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 探测器类型 | 硅漂移探测器 |
| 探测器面积 | 30 mm2 |
| 能量分辨率 | 148 eV (Cu-Kα) (Mn-Kα时不高于129 eV) |
| 可检测元素 | B5～Cf98 |
【技术特点对用户带来的好处】-- TM系列专用能谱仪（EDS） Quantax75
【典型应用举例】-- TM系列专用能谱仪（EDS） Quantax75
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经销商
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电镜用X射线能谱仪EDS
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