Renishaw Raman-SCA-SEM 扫描电镜-拉曼联用系统

　　1、从SEM (SEI和BEI) 获得形貌和平均原子数

　　2、从EDS分析获得元素成分

　　3、从拉曼光谱获得化学成分和物质鉴定

　　4、从拉曼光谱获得物理结构(晶体的及力学数据)

　　5、从阴极发光 (CL) 和光致发光 (PL) 获得电子及物理结构信息

SEM-拉曼使您能够在单一系统内全面地原位表征样品性能。两种技术的联用方式使我们对便捷、效率和生产力有了新的定义。

雷尼绍结构与化学成分分析仪 (SCA) 接口使扫描电镜 (SEM) 具有了inVia的拉曼分析能力。

拉曼 + SEM

inVia和SCA接口提供了一种SEM内的分析技术，既补充了以光学显微镜为基础的拉曼光谱，又克服了X射线能量散射谱 (EDS) 作为传统SEM内的分析技术的局限性。采用雷尼绍SEM-拉曼联用系统，您将受益于定位共同点的形貌、元素、化学、物理和电子分析。

使用SEM记录样品的高分辨图像，并进行元素分析。增加拉曼分析样品化学信息的能力，以识别材料和非金属化合物，即使当这些物质具有相同的化学计量结果时也不例外。

SCA和inVia不仅可以测试拉曼光谱，还可以进行光致发光 (PL) 和阴极射线发光 (CL) 光谱测试。

• 冲积物的X射线分析

一套用于原位分析的联用系统

使用一套联用系统，可节省宝贵的时间。您无需在两台仪器之间移动样品，也不会分析错误的样品区域。

inVia和SEM可同时作为独立系统使用，而不会影响两者的任何性能。您拥有一台拉曼系统、一台SEM系统和一套拉曼-SEM联用系统。

• Spectra from feldspar grain [en]

• Spectra from feldspar grain [en]

同一位置、同一时间

对您的数据充满信心；可以不移动样品而从相同的点同时采集拉曼和SEM数据。确保分析快速且数据具有代表性。

挑选zei佳系统

雷尼绍SCA接口可以配备到您现有的SEM上。它安装在一个接口上，完全不需要对SEM进行任何改装。SCA可以安装到所有主要供应商提供的SEM上，包括：

• Zeiss

• FEI

• TESCAN

• JEOL

• Hitachi