Renishaw Raman-SCA-SEM 扫描电镜-拉曼联用系统

　　扫描电镜 (SEM)-拉曼使您能够在单一系统内综合地原位进行样品特性描述。通过两种技术的联用，对便捷、效率和生产力进行了重新定义。

　　雷尼绍的扫描电镜-结构与化学成分分析仪 (SEM-SCA) 接口使扫描电子显微镜具有了inVia的拉曼分析功能。使用SEM记录样品的高分辨图像，并使用X射线执行元素分析。增加拉曼的分析能力，以识别材料和非金属化合物，即使当这些物质具有相同的化学计量结果时。

　　拉曼 + SEM + EDS

　　inVia和SEM-SCA提供了一种SEM内的分析技术，既补充了以光学显微镜为基础的拉曼光谱，又克服了X射线能量散射谱 (EDS) 作为传统SEM内的分析技术的局限性。

　　SEM-SCA和inVia不仅与拉曼完全兼容，还与光致发光 (PL) 和阴极射线发光 (CL) 光谱兼容。

　　受益于定位共同点的形貌、元素、化学、物理和电子分析。

　　相同的位置，相同的时间

　　对您的数据充满信心;可以不移动样品而从相同的点同时采集拉曼和SEM数据。确保了您的数据具有代表性。

　　一套联用系统

　　使用一套联用系统，可节省宝贵的时间。您无需在两台仪器之间移动样品或冒着分析错误的样品区域的风险。

　　更值得称赞的是，两名使用者可以同时且独立地操作inVia和SEM-SCA，而不会影响这两台仪器的任何性能。您拥有一台拉曼系统、一台SEM-SCA系统和一套拉曼-SEM-SCA联用系统。

　　挑选zei佳系统

　　SEM-SCA与SEM主机兼容。从下列供应商选择zei好的SEM，以满足您的需要，例如：

　　Zeiss、FEI、TESCAN、JEOL、Hitachi

　　选择zei好的系统

　　雷尼绍公司的结构与化学成分分析仪 (SCA)，将扫描电子显微镜 (SEM) 和拉曼光谱这两种成熟的技术结合在一起，实现了一种强大的独创技术，即无需在不同仪器之间移动样品，就可对同一点样品的形貌、元素、化学成分、物理及电子学特性等进行分析。

拉曼-扫描电镜联用系统使您能够在单一系统内全面地原位表征样品性能。雷尼绍结构与化学成分分析仪（SCA）接口使扫描电镜（SEM）具有了inVia的拉曼分析能力。

inVia和SCA接口提供了一种SEM内的分析技术，既补充了以光学显微镜为基础的拉曼光谱，又克服了X射线能量散射谱（EDS）作为传统SEM内的分析技术的局限性。采用雷尼绍SEM-拉曼联用系统，您将受益于定位共同点的形貌、元素、化学、物理和电子分析。

联用系统优势：

1. 原位测量。无需在不同仪器之间移动样品，节约时间，保证正确的分析区域。

2. inVia和SEM可同时作为独立系统使用，而不会影响两者的任何性能。

3. 得到丰富的样品信息。使用SEM记录样品的高分辨图像，并进行元素分析。增加拉曼分析样品化学信息的能力，以识别材料和非金属化合物。

4. 还可进行光致发光（PL）和阴极射线发光（CL）光谱测试。

选择zei好的系统：

雷尼绍SCA接口具有非常高的普适性，可以配备到您现有的SEM上，基本不需要对SEM进行改装。SCA可以安装到所有主要供应商提供的SEM上，包括：

• Zeiss

• FEI

• TESCAN

• JEOL

• Hitachi