技术参数

　　光路系统

　　集成红外散射SNOM系统:

　　包含必需的光学器件, 激光和检测器;

　　高质量的宽频光学元件;

　　低噪音, 液氮冷却的探测器;

　　精确的干涉仪控制系统;

　　低噪声量子级联激光器光源;

　　优化的近场采集和激发光路

　　AFM扫描头

　　可支持应用模块的AFM扫描头(可支持所有选择模式)

　　扫描器

　　125μm x 125μm (X-Y) x 5μm( Z range); 可以根据需求选择其他扫描器

　　控制器

　　NanoScopeV 控制台, 配v9.0 Nanoscope实时控制软件;

　　NanoScope v1.5 分析软件;

　　Windows 7 操作系统

　　模式

　　扫描探针红外模式:

　　IR sSNOM 在 TappingMode and PeakForce IR模式下运行

　　常规成像模式:

　　智能成像模式

　　峰值力轻敲模式

　　轻敲模式

　　接触模式

　　扭转共振模式

　　扫描隧道显微镜

　　摩擦力显微镜

　　相位成像

　　可选择的材料表征模式:

　　PeakForce KPFM——纳米级热分析

　　导电原子力显微镜——液态成像

　　PeakForce TUNA——电化学原子力显微镜

　　PeakForce QNM——纳米压痕

　　PeakForce Capture——压电力显微镜

　　力曲线阵列 ——电场力和磁力显微镜