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奥谱天成(厦门)光电有限公司
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奥谱天成ATP6501 高分辨率制冷型微型光纤光谱仪

tel: 400-6699-117 2856

奥谱天成光纤光谱仪, ATP6501是奥谱天成研制的超高性能制冷型微型光纤光谱仪,是性能的王者,它采用1044 x 64像素的制冷型背照式线性CCD,该CCD具有最大的动态范围,并采用了半导体制冷技术,降低了工作时的暗电流,CCD可工作在设定的恒温环境(最低可达-20oC),从而大幅降低了传感器的噪声,获得了极佳的信噪比(比同类竞争对手提高了约2倍),而且提高了ATP6500的测量可靠性,测量结果不随环境温度变化。

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探测器


类型

线阵背照式CCD   (制冷到 -20oC)

探测光谱范围

190-1100 nm

有效像素

1044 x 64

像元尺寸

24μm×24μm

全量程范围

~600000 ke-

灵敏度

6.5 uV/e-

暗噪声

8 e-

光学参数


波长范围

190-1100 nm

光学分辨率

0.01-4   nm (取决于狭缝、光谱范围)

性噪比

>3000:1

动态范围

50000:1

工作温度

-10-45 oC

工作湿度

< 85%RH

光路参数


光学设计

f/4 交叉非对称C-T光路

焦距


98 mm for incidence / 107 mm for   output

入射狭缝宽度

5、10、25、50、100、150、200 μm 可选,其他尺寸可定制

入射光接口

SMA905光纤接口、自由空间

电气参数


积分时间

1 ms - 130 second

数据输出接口

USB 2.0

ADC位深

18   bit

供电电源

DC 5V±10%

工作电流

<3.2 A

存储温度

-20°C   to +70°C

操作温度

-10°C   to +45°C

物理参数


尺寸

170×110×52 mm3

重量

0.8 kg

Sealing

Anti-sweat





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