日本日立FT110XRF萤光镀层厚度测量仪
tel: 400-6699-117 转 1000日立X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪), http://www.antpedia.com/admin/productadmin/addproduct_p_2.php?pid= 173103
咨询留言
产品型号: FT110
品牌:日立
产品产地:日本
产品类型:国产
原制造商:日立
状态:在售
厂商指导价格:未提供
上市时间: 2016年
英文名称: FT110
优点:http://www.antpedia.com/admin/productadmin/addproduct_p_2.php?pid= 173103
参考成交价格: 30~50万元[人民币]
X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪)
其他推荐
厂家资料
地址:河北省沧州市经济技术开发区198号
电话:400-6699-117 转 1000
经销商
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 日本日立FT110XRF萤光镀层厚度测量仪 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是,请告诉我们,我们的邮件地址是:sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
评论
我来点评售后服务
登记我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。
产品调查
查看标准
- JIS C8117-2008 荧光灯用交流(AC)电子镇流器
- JIS K0119-2008 X射线荧光光谱测定法总则
- ECA CB-13-1990 镀层厚度测定的X射线荧光
- QB/T 1912-1993 眼镜架金属镀层厚度测试方法.X荧光光谱法
- NF A91-116-2001 金属镀层.镀层厚度的测定.X射线光谱法
- DIN EN ISO 3497-2001 金属镀层.镀层厚度测量.X射线光谱测定法
- JIS Z9112-2012 用色度和分色表对荧光灯进行分类
- JIS Z9112-2012 用色度和分色表对荧光灯进行分类
- QB/T 1135-2006 首饰 金 银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法
- ISO 3497-1990 金属镀层.镀层厚度的测量.X射线光谱测定法