技术特点
【技术特点】-- SCI-DX 动态独立吸附法比表面测定仪
动态吸附比表面测定仪,JW发明zl,创新的结构,每个样品单独吸附,互不干扰,吸附峰尖锐,灵敏度大大提高,通过吸附峰直接对比得到比表面,测试准确、稳定,比表面下限降低一个数量级,非常适合电池正负极材料尤其是石墨等小比表面材料的检测。
产品特点:
产品特点及优势:
●动态比表面测定,JW发明zl(zl号201410320453.2),采用吸附峰,测试过程简化,完全避免了样品脱附不完全可能带来的误差;
●仪器设有4个独立分析位,可同时进行4个样品的比表面快速测定,测定范围0.01m2/g-500 m2/g,尤其适合小比表面样品测试;
●每个样品独立进行吸附,实现了多样品的无干扰、无差异测试,完全保证四个样品站测试结果的平行性;测试重复精度≤± 1.0%;
● 每个样品气路直接与热导检测器相连,不受其他气路冲淡,吸附峰尖锐,灵敏度大大提高,非常适合小比表面样品的测定;
●仪器内部管路连接方式采用快插式接头连接,方便、快捷、耐用、不漏气,完全满足常压下动态色谱法比表面积测试的要求,人性化设计;
● 采用热导池检测器恒温系统,确保测试结果的稳定性,大大减小测量误差;
●自主研发的全自动数据采集及处理软件,先进而简便,操作极为方便,具有开拓性、时代性!
●仪器规格:长610mm×宽360mm×高690mm, 重量约30Kg;
●使用电源要求:交流220V±20V,50/60HZ,最大功率300W;
【技术特点对用户带来的好处】-- SCI-DX 动态独立吸附法比表面测定仪
【典型应用举例】-- SCI-DX 动态独立吸附法比表面测定仪
经销商
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