TEA采用创新的光干涉原理zl技术,可无损检测块体和薄膜样品透明材料的热膨胀系数,广泛应用于辅助各种新材料,尤其是薄膜材料的研究与开发以及质量检验。
热膨胀系数分析仪独特技术
l 自主知识产权产品,拥有多项技术zl。
l 基于光干涉原理的创新技术,通过照射到样品上下表面产生的两束反射光发生干涉,得到光功率随温度的变化曲线,通过计算得到材料的热膨胀系数。
l 采用PID调节与模糊控制相结合形式控制的红外加热方式,大温区连续、高速温度跟随、既定程序升温及保持控制。
l 非接触式无损检测,测试精度高。
l 具备外接抽真空设备、循环水冷设备及载气或制冷能力。
热膨胀系数分析仪技术参数
热膨胀系数分析仪样品要求
●尺寸:长×宽5x5~20x20mm2,厚度2.0mm(含基底)以下为宜
●适用于透光材料的热膨胀系数检测
●具备光学反射双平面
●检测样品的热膨胀量≥266nm
热膨胀系数分析仪测试原理
1.入射光 2.光束隔离器 3.投射光 4.待测样品
5.反射光 6.反射光 7.聚光镜 8.滤光片 9.光电传感器
光路原理图
激光器射出的光线经分光镜照射到样品上表面,产生反射光,同时投射光照射到下表面也产生一束反射光,两束反射光在光电探测器处发生干涉,反射光功率发生周期性变化,得到光功率随材料温度的变化曲线,通过计算得到热膨胀系数。
经销商
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