技术特点
【技术特点】-- Joule Yacht 热电参数测试系统 Namicro-3LT
Namicro-3LT采用动态法(具有zl技术)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。
Namicro-3LT主要是用于测试块体热电材料，包括康铜、镍、钨等金属，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物，以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。
热电参数测试系统技术参数
型号 | Namicro-3LT |
温度范围 | RT~800°C |
温控方式 | PID程序控制 |
最大升温速率 | 50°C/min |
真空度 | ≤50Pa |
测试气氛 | 真空 |
测量范围 | 泽贝克系数：S ≥ 8μV/K； 电阻率：0.1μΩ?m ~ 106KμΩ?m |
分辨率 | 泽贝克系数：0.05μV/K； 电阻率：0.05μΩ?m |
相对误差 | 泽贝克系数 ≤±7%，电阻率 ≤±5% |
测量模式 | 自动 |
样品尺寸 | 块体，长x宽：(2~5) x (2~5)，单位mm；高度：10 ~ 18mm |
主机尺寸 | 1000 x 400 x 500，单位mm |
重量 | 75kg |
热电参数测试系统样品要求
块体：具备平整上下端即可
若样品表面有腐蚀或氧化等杂质层覆盖，需对样品表面抛光，使材料裸露出来，保证接触良好
热电参数测试系统技术原理
动态测量法
测试过程中给试样两段施加一微小的连续变化的温差，测量样品两端热电势变化，温差?T和热电势之间呈线性关系，其斜率即为seebeck系数。
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四探针法
即四点接触法，电流的路径如右图所示，但测量电压使用的是另外两个接触点。相比二探针法，四探针法测量电阻率有个非常大的优点——不需要校准；有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法校准，因而测量精度更高。
【技术特点对用户带来的好处】-- Joule Yacht 热电参数测试系统 Namicro-3LT
【典型应用举例】-- Joule Yacht 热电参数测试系统 Namicro-3LT
经销商
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