用途: 热反射方法基于超高速激光闪射系统,可测量基片上金属、陶瓷、聚合物薄膜的热物性参数,如热扩散系数、热导率、吸热系数和界面热阻。此系统可测量厚度低至10nm的薄膜。同时,系统提供不同的测量模式,以适应于不同的基片情况(透明/不透明)。 |
性能: -由于激光闪射时间仅为纳秒(ns)量级,甚至可达到皮秒(ps)量级,此系统可测量厚度低至10nm的薄膜。 -系统提供不同的测量模式,以适应于不同的基片情况(透明/不透明)。 RF测量模式:主激光源从反面加热薄膜,检测激光从正面测量薄膜的温度升高过程,从而计算薄膜的导热性能参数。此模式适用于透明基片。 FF测量模式:主激光源从正面加热薄膜,检测激光从正面测量薄膜的温度下降过程,从而计算薄膜的导热性能参数。此模式适用于不透明基片。 -该方法符合国际标准: JIS R 1689:通过脉冲激光热反射方法测量精细陶瓷薄膜的热扩散系数; JIS R 1690:陶瓷薄膜和金属薄膜界面热阻的测量方法。 |
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