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紧凑型高精度反射膜厚仪

tel: 400-6699-117 7739

沈阳科晶其他包装业专用, SR-C系列紧凑型高精度反射膜厚仪,利用光学干涉原理,通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射谱,快......

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技术参数

型号

SR-CV

SR-CN


基本功能

获取薄膜厚度值以及R、N/K等光谱




光谱波长范围

380-800nm

650-1100nm



测量厚度范围

50nm-20um

100nm-200um



测量时间

<1s




光斑尺寸

0.5-3mm




重复精度

0.1nm(100nmSiO2/Si)




绝对精度

±1nm or 0.5%




入射角方式

垂直入射





厂家资料

地址:沈阳市浑南新区学风路26-2-7号5门 精密仪器工业园

电话:400-6699-117 转 7739

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