产品性能 | (1)接受锥形电化学抛光的样品或聚焦离子束(FIB)制备的样品柱。 (2)允许360°的图像采集和层析图像的重建,不会因楔子缺失而造成信息损失。 (3)样品可以很容易地从支架上取出,然后直接转移到APT机上进行进一步表征。 (4)兼容所有几何形状的极片间隙。 |
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沈阳科晶其他, TEM-APT Holder电镜连用三维原子探针样品杆可与原子探针、透射电镜配套使用,有效地使原子探针和透射电镜检测结合在一起,使样品的观察和分析更加方便。
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