德国Sentech红外光谱椭偏仪SENDIRA

SENTECH光谱椭偏仪SENDIRA是专门为红外应用(FTIR)设计的。紧凑型测量台包括椭圆仪光学部件，计算机控制角度计，水平样品台，自动准直透镜，商用FTIR和DTGS或MCT探测器。FTIR在400?cm-1 ～6,000?cm-1 (1.7?μm?–?25?μm)光谱范围内提供了极好的精度和分辨率。

光谱椭偏仪SENDIRA主要用于薄层的振动光谱分析。应用范围从介质膜、TCO、半导体膜到有机膜层。SENDIRA是由SpectraRay/4 软件操作，另外还提供了FTIR软件。