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Sentech 激光椭偏仪 SE 400adv

tel: 400-6699-117 1000

SENTECH椭偏仪, 激光椭偏仪SE 400adv测量透明薄膜的厚度和折射率指数,具有测量速度、亚埃级别的厚度精度和折射率测定的精度。......

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稳定的氦氖激光器保证了0.1埃精度的超薄单层薄膜厚度测量。

多角度测量的完全集成支持(40°—90°,5°步进),可用于确定层叠的厚度、折射率和消光系数。

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