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德国Sentech光伏测量仪MDPmap

tel: 400-6699-117 1000

SENTECH其它光学测量仪, MDPmap设计用于离线生产控制或研发、测量少子寿命、光电导率、电阻率和缺陷信息等参数的小型台式无触点电特性测量仪器。......

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MDPmap能够连续地改变激发脉冲宽度,从非常短的脉冲(100ns)到稳态测量(几ms),研究不同深度的缺陷动力学和少子寿命特性。


自动的样品识别和参数设置允许在从原始生长晶片到高达95%金属化晶片的各种工艺阶段之后,容易地应用于包括外延层的各种不同样品。

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