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技术参数与特点
+高稳定性与低漂移（在大气环境中：<10nm/h） +适用不同环境，从大气到真空 +镜头NA=0.95，收光效率高，工作距离 WD=0.3mm +极高自由度（AFM探针、样品粗位移与精细扫描器、高NA镜头） +样品粗位移范围：15×15×15mm3; 样品精细位移：20×20×7mm3 +AFM探头粗位移范围：15×15×15mm3; 样品精细位移：20×20×7mm3 +高NA镜头移动范围：在Z方向上可移动15mm +可升级至低温强磁场磁共振显微镜 +光学测量可选透射式与反射式 |
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