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TriStar II Plus 比表面与孔径分析仪

tel: 400-6699-117 6822

麦克比表面积仪/动态法, 是完全自动化并且含三个分析站的比表面积和孔隙度分析仪,仪器性价比高......

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技术特点
【技术特点】-- TriStar II Plus 比表面与孔径分析仪

高性能多通道全自动比表面与孔隙度分析仪TriStar II Plus系列

 

 

TriStar II Plus系列比表面与孔隙度分析仪硬件优势和软件特点

 

  • 独特的耐腐蚀不锈钢歧管设计,可用于高精度的气体管理

  • 长效杜瓦瓶设计,提供高达40h的连续温度控制

  • 可选氪气选配,用于极低的比表面测试

  • 直观的MicroActive软件使用户能够以交互方式分析等温线数据,更快地获得比表面与孔径数据

  • 用户自定义报告选项允许直接建模

  • 强大的Python编程语言,允许用户开发扩展TriStar II Plus系列软件标准报告库

  • 创新的仪器监控界面实时显示仪器性能指标和维护信息

  • 能够在碳微孔分析中同时应用CO2和N2吸附等温线通过NLDFT理论来计算全范围孔径分布

 

 
TriStar II Plus系列比表面与孔隙度分析仪

 

数据处理优势

 

  • MicroActive交互式软件,可直接处理吸附数据,用户可通过简单的移动计算条,可得到新的结构信息。一键式访问重要的参数,让用户专注于结果,而不是参数

  • 交互式数据处理模式,最大限度地减少使用对话框和达到指定计算参数的路径。用户能准确和有效地确定材料的比表面积和孔隙度

  • 可与压汞数据进行叠加(最多25个)

  • 可通过图形界面在BET,t-Plot,Langmuir,DFT等模型中选择数据范围

  • 报告编辑选项,允许用户自定义多达五份报告,可在屏幕上预览。每份报表都有总结、表格和图形信息

 

强大的软件功能,数据处理特性和仪器监控功能

 

用于TriStar II Plus系列的MicroActive软件

直观的MicroActive软件使用户能够以交互方式评估等温线数据,并减少获取表面积和孔隙度结果所需的时间,不需要生成报告便可查看结果。用户可以很容易的产生并调整BET比表面积变换图等计算结果;可方便快速的通过计算条选择数据点,计算所得到的数据结果可及时更新,并可在计算窗口内进一步细化使用的数据范围。

 

气体吸附数据和压汞数据叠加功能

TriStar II Plus系列比表面与孔隙度分析仪的MicroActive软件允许用户将压汞法得到的孔隙分布与气体吸附等温线得到的孔径分布图叠加。这种新的功能使得用户在一个软件中即可分析微孔、介孔和大孔分布。

 

包含Python编程语言

TriStar II Plus系列比表面与孔隙度分析仪的软件内嵌Python编程语言。用户可使用这种强大的脚本语言在仪器的应用中扩展标准报告库。

 

NLDFT

双NLDFT方法允许用户同时应用氮气吸附和二氧化碳吸附等温线得到材料的全范围孔径分布。相对于标准的氮吸附分析,这种方法可以将孔径分析扩展到更小的孔径。这是因为CO2可在低温下进入更小的微孔,而N2由于尺寸限制以及扩散缓慢等原因进入不了这些微孔。

 

Dual DFT

这种先进的NLDFT方法允许用户用两个等温线确定样品的孔径分布。在这个例子中,二氧化碳在273K吸附等温线(红色)和氮在77K吸附等温线(绿色)用于计算一个单一的孔径分布。用户不必剪切粘贴二氧化碳和氮气吸附数据,而可以使用两个等温线获得一个单一的孔径分布。

您只需点击一下,TriStar II Plus系列表面与孔隙度分析仪就能提供一套强大的信息,使仪器既能保持在最佳工作状态,又能显示实时分析视图。

 

样品制备设备

麦克仪器样品制备装置可为比表面和孔隙度分析制备样品。它使用流动气体或者抽真空并加热达到去除污染物的目的,例如样品表面或者孔隙中的水蒸汽和吸附气体。

比表面积和孔体积分析产生的数据质量在很大程度上取决于样品 表面的清洁度。麦克仪器公司的样品制备装置可使用氦气、氮气、氩气和其他非腐蚀性气体。

 

FlowPrep™060通过对样品加热和惰性流动气体从样品表面和孔隙中去除吸附的污染物。FlowPrep拥有六个脱气站,可选择适用于样品材料以及应用的温度、气体和流量。针阀设计使气体流动缓慢,防止样品被吹走。
 

 

VacPrep™ 061提供两种方式除污染物。除了流动气体法外,它可以通过加热和真空法制备样品。VacPrep拥有六个脱气站,每个站都可选真空制备或流动气体制备样品。针阀设计使气体流动缓慢,防止样品被吹走。

 

 

智能的VacPrep™067是一种先进的六站系统利用加热抽真空法来制备样品。每个站可以独立操作,而不会影响其他正在处理的样品。当样品完成所有脱气步骤后,脱气将自动终止。

 

 


TriStar II Plus 比表面与孔径分析仪


TriStar II 是完全自动化并且含三个分析站的比表面积和孔隙度分析仪,仪器性价比高。它能够提高常规质控分析的速度和效率,同时拥有高精度、高分辨率和数据还原能力,以满足大多数研究需求。TriStar II 也同时提供氪气选件,可以在非常低的比表面积范围内进行测量。该仪器还兼容多种分析方法和数据处理,用户可优化分析特定的应用。



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TriStar II Plus 比表面与孔径分析仪 产品优势


  • 三个分析站同时运行,但又相互独立。三个BET比表面积的测量可以在20分钟内完成,四个TriStar可用一台计算机控制。
  • 使用标准氮气系统,比表面积测试最低可达 0.01 m2/g 。TriStar II也适用于氩气、二氧化碳和其他非腐蚀性气体如丁烷、甲烷或其他轻烃气体。
  • 标配的 P端口可连续进行饱和压力的测量。饱和压力可手动输入、连续测量或在样品中收集。TriStar II可方便的控制和微调分析速度和精度。
  • 渐增或固定注气程序可防止错过压力点,同时又最大限度地减少分析时间。
  • 自由空间可以测量、计算或手动输入,提供了最大的灵活性,以适应特殊类型的样品以及需要时进行快速测量。
  • 增强的产品功能包括:视频剪辑、计算机和TriStar II之间的以太网通信、条形码阅读器、内置在电子测试点和诊断软件、能够通过互联网进行远程诊断、读取和比较TriStar II及Gemini历史数据和TriStar II数据。
  • 2.75升(可选配4L)大容量杜瓦瓶和超长样品管允许收集完整的吸附脱附等温线,而无需人员再次加液氮。
  • 多达1000个数据点的TriStar II等温线的观察与记录可以提供高分辨率和揭示孔隙结构的细节。
  • 直观而强大的视窗软件使得数据归档和联网操作更便利。这个软件最强大的功能在于扩展的数据处理以及报告功能,包含SPC报告、新吸附等温线和厚度模型、等量吸附热和DFT模型等。
  • 可选用加热流动气体或者加热抽真空去除样品的表面和孔隙中水蒸汽和吸附的气体。
  • 设计精美,体积小,使用方便。


TriStar II Plus 比表面与孔径分析仪分析范围      

比表面积不低于 0.01 m2/g,氮气配置

比表面积不低于 0.001 m2/g,氪气配置 

孔体积:不低于 4 × 10-6 cm³/g 

分析站个数:1-3个 

杜瓦瓶持续时间:最长 40 小时




【技术特点对用户带来的好处】-- TriStar II Plus 比表面与孔径分析仪


【典型应用举例】-- TriStar II Plus 比表面与孔径分析仪


厂家资料

地址:上海浦东新区民生路600号船研大厦1505-1509室

电话:400-6699-117 转6822

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