技术指标
ACC | ARC | ASC | |||
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UV | UV/VIS | VIS | VIS | VIS | |
光谱范围 | 280-500nm | 280-720nm | 320-950nm | 320-950nm | 320-950nm |
探测器 | 256 通道硅光电探测器 | ||||
光谱分辨率 | 2.2nm | 2.2nm | 3.3nm | 3.3nm | 3.3nm |
光谱精度 | ±0.2nm | ±0.2nm | ±0.3nm | ±0.3nm | ±0.3nm |
输出数据信道 | 100 | 200 | 190 | 190 | 190 |
测量指标
ACC-UV | ACC-VIS | ARC-VIS | ASC-VIS | |
测量参数 | UVA、UVB辐照度 | VIS可见光辐照度 | VIS可见光辐照度 | VIS可见光辐照度 |
光谱范围 | 280-500nm | 320-950nm | 320-950nm | 320-950nm |
典型饱和度 (IT:4ms)** | 20W/m2/nm(@300 nm) 17W/m2/nm(@360 nm) 18W/m2/nm(@500 nm) | 10W/m2/nm(@400 nm) 8W/m2/nm(@500 nm) 14W/m2/nm(@700 nm) | 1W/m2/nm/sr(@500 nm) | 20W/m2/nm(@400 nm) 12W/m2/nm(@500 nm) 15W/m2/nm(@700 nm) |
典型NEI (IT:8s)** | 0.85uW/m2/nm(@300 nm) 0.75uW/m2/nm(@360 nm) 0.80uW/m2/nm(@500 nm) | 0.4uW/m2/nm(@400 nm) 0.4uW/m2/nm(@500 nm) 0.6uW/m2/nm(@700 nm) | 0.25uW/m2/nm/sr | 0.8uW/m2/nm(@400 nm) 0.6uW/m2/nm(@500 nm) 0.8uW/m2/nm(@700 nm) |
传感器类型 | 余弦硅光电探测器 | FOV：空气中7° | 球形检测2Pi | |
精度 | <6%~10% | <6% | <5% | |
积分时间 | 4ms-8s |
其它参数：
测量 | 高光谱辐照度或高光谱辐亮度 | ||
T100响应时间 | ≤ 10 s （脉冲模式） | 测量角度 | 40°±10° |
数据存储 | 无，可选配数据采集器 | 测量间隔 | ≤ 8 s（脉冲模式） |
外壳材质 | 不锈钢（1.4571/1.4404）或钛合金（3.7035） | ||
大小（L x ?） | ACC：260 mm x 48 mm | 重量 | 不锈钢：~ 0.9 kg 钛：~ 0.7 kg |
数字接口 | RS-232 （TriOS） | 系统兼容性 | RS-232（TriOS协议） |
电源 | 8~12 VDC （± 3 %） | 功耗 | ≤ 0.85 W |
抗压能力 | SubConn：30 bar | 防水等级 | IP68 |
采样温度 | +2~+40 °C | 环境温度 | +2~+40 °C |
保存温度 | -20~+80 °C | 流入速度 | 0.1~10 m/s |
校准/维护间隔 | 24个月 | 选配传感器 | 倾角传感器：±45° |
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