Hiden SIMS二次离子质谱工作站提供高性能静态和动态 SIMS 分析,用于的表面成份分析和深度剖析。
SIMS 工作站(SIMS Workstation-a complete SIMS Analysis Facility) ,综合UHV / SIMS 设备,进行高级的表面分析。可靠的、普遍适用的SIMS分析工作站。
特点
·整合的离子源,便于RGA和SNMS
·各类型样品的快速转向
·阴、阳离子、中性粒子、自由基的质量、能量分析仪
·整合的离子枪光栅控制和信号选通,进行深度分析
·绝缘体研究中的电子流枪用于电荷中和
·液氮冷井和真空室烘烤加热器
·自动的SIMS 离子光学透镜调谐和质量数列表,使SIMS性能最佳
参数
·Hiden EQS SIMS 分析仪,运行于 MASsoft O/S 之下,检测限至ppb级
·基本的激发源选择: 带差式泵的Hiden IG20 Ion,IFG200 FAB或高性能液态镓枪
·快速样品传递,样品固定,负载锁定的操纵器
·4 轴:X, Y, Z, θ UHV 操纵器,以最佳定位样品
·加上ESM LabVIEW和SIMS 成像程序,进行SIMS元素成像
·静态SIMS谱图库可用
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