“先进的SEM更为紧凑”
宽幅仅为45 cm的紧凑型的设计,仍具备4.0 nm的图像分辨率。
全新开发的用户界面和电子光学系统让您深切体验其高性能。
特点
FlexSEM 1000 II,凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器,可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新开发的用户界面,具有亮度和对焦自动调节功能,可以在短时间内进行各种观察。此外,还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”,这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点,实现最直观的视野移动。
尽管是可放置在桌面上的小巧紧凑型*1电子显微镜,仍可实现4.0 nm的分辨率
凭借独特的高灵敏度二次电子、背散射电子检测器、低真空检测器(UVD*2),可在低加速/低真空下观察时实现最高的画质
全新的用户界面,无论用户的熟练程度如何,都可实现高画质和高处理能力
全新的定位功能“SEM MAP”,支持观察时的视野搜索和样品定位
大直径(30毫米2)无氮EDS检测器,可快速进行元素分析*2
*1 设置到桌面上时,请将机体与电源盒分离
*2 选项
小型高性能色谱柱
尺寸虽小,却具备同类产品中最高的分辨率。
金颗粒沉积
加速电压:20 kV
倍率:60,000倍
信号:SE
分辨率:4 nm
金颗粒沉积
加速电压:20 kV
倍率:50,000倍
信号:BSE
分辨率:5 nm
高画质
配备可优化放射电流的功能,以便在较低的加速电压下也能获得足够的亮度,而获得噪点小且清晰的图像。
储氢合金
加速电压:5 kV
倍率:30,000倍
信号:SE、无金属涂层
Al-Ni复合材料
加速电压:3 kV
倍率:10,000倍
信号:BSE、无金属涂层
可用高画质和快速观察
搭载GUI和自动调节功能,让初学者也能得心应手。只要按一下自动对焦(AFC)、自动亮度调节(ABCC)按钮,就可以获得最佳的图像。(自动调节:与以往相比,缩短时间约13秒*3)当然,也可以通过触屏进行操作。
*3 对比日立SEM SU1510
全新定位系统“SEM MAP”
“SEM MAP”功能可有效实现观察时的视野搜索和样品定位。根据内置摄像头所拍摄的图像,定位样品,一键点击即可移动到观察部位。
在SEM MAP上导入的图像会自动进行粘贴,并以分布图的形式显示。
可放置在桌面上的紧凑型电子显微镜
宽幅仅为45厘米,紧凑型设计,最大程度地减小占用空间。机体仅支持AC100 V 3P电源插座。此外,机体和电源盒可以分离,从而大幅度提升诸如桌面设置等的布局灵活性。
FlexSEM 1000 II
观察实例
半导体
焊线
加速电压:5 kV
真空度:30 Pa
倍率:1,000倍
信号:BSE、无金属涂层
加速电压:5 kV
真空度:30 Pa
倍率:5,000倍
信号:BSE、无金属涂层
材料
二硫化钨
FlexSEM 1000 II采用新型偏压系统,可在低加速电压下获得高放射电流。从而,在低加速电压下也能实现同类产品中最高的图像清晰度(S/N)。
加速电压:15 kV
倍率:10,000倍
信号:SE、无金属涂层
加速电压:3 kV
倍率:10,000倍
信号:SE、无金属涂层
水泥
加速电压:3 kV
倍率:15,000倍
信号:SE、无金属涂层
黄铜矿
加速电压:5 kV
真空度:40 Pa
倍率:1,000倍
信号:BSE、无金属涂层
生物
蝴蝶翅膀断面
加速电压:5 kV
倍率:40,000倍
信号:SE、有金属涂层
花粉
加速电压:5 kV
真空度:60 Pa
倍率:500倍
信号:UVD、无金属涂层
三维测量软件
Hitachi map 3D(选项)
利用SEM上4分割背散射电子检测器所获得的信号,可计算4个方向的表面形状,从而无需进行样品倾斜和视野对位,即可构建三维模型。
Hitachi map 3D支持多个国家的语言,具备用于调节样品位置的各种校正功能、以及可追溯测量过程的测量系统、符合ISO标准的表面粗糙度(面粗糙度、线粗糙度)的测定、此外还包括表面积、体积等其他测量功能以及报告输出等功能。
日立高新技术公司于2016年4月15日在全球发布了新型扫描电子显微镜——FlexSEM 1000。该产品结构紧凑,占地面积小,但分辨率不输大型电镜,同时操作极其简便,几乎不用培训就可操作。紧凑型设计,分辨率为4 nm。
扫描电子显微镜可对材料的表面进行高倍率观察及高精度元素分析,在纳米技术、生命科学、产品设计研发及失效分析等领域有着广泛的应用。 近年来,扫描电镜观察表面精细结构及元素分析的需求日趋增加,而越来越多的用户希望能在生产线、品保检验线和办公区等有限的空间里使用扫描电子显微镜。因此,体积小、操作简便、分辨率高的扫描电子显微镜备受关注。FlexSEM 1000主机宽450mm、长640mm,相比SU1510型号体积减小52%,重量减轻45%,功耗减小50%,且配备标准化的电源接口。主机与供电单元可分离,安装非常灵活。
FlexSEM 1000采用最新设计的电子光学系统和高可靠性、高灵敏度的探测器,分辨率高达4nm。FlexSEM 1000有多种自动化功能,操作简便,即便是初次操作者也能快速拍出高质量图像。另外,新开发的导航功能「SEM MAP」可使用各种光学图片或电镜照片进行导航,一键就快速精准地切换至感兴趣的高倍率视野。
紧凑型VP-SEM FlexSEM 1000
(主机与供电单元可分离)
特点:
a. 通过高灵敏度二次电子探测器,背散射探测器,低真空探测器(UVD*2),实现低加速电压/低真空下高质量图像观察
b. 操作简捷,即使新手也能拍出高质量的图片
c. 新开发的导航功能「SEM MAP」,便于快速锁定视野
d. 大窗口(30 mm2)SDD能谱系统,便于快速分析元素成分*2
*1 设置在桌面时,分离主机和电源箱
*2 选配
项目 | 内容 |
---|---|
分解能*3 | 4.0 nm @ 20 kV (SE:高真空模式) 15.0 nm @ 1 kV (SE:高真空模式) 5.0 nm @ 20 kV (BSE:低真空模式) |
加速电压 | 0.3 kV ~ 20 kV |
放大倍率 | 6× ~ 300,000× (底片倍率) 16× ~ 800,000× (显示倍率) |
低真空模式 | 真空范围:6 ~ 100 Pa |
电子枪 | 预对中钨灯丝 |
样品台 | 3-轴自动马达台 X:0 ~ 40 mm, Y:0 ~ 50 mm, Z:5 ~ 15 mm R:360°, T:-15° ~ +90° |
最大样品尺寸 | 直径80 mm |
最大样品高度 | 40 mm |
尺寸 | 主机:450(W) x 640(D) x 670(H) mm 供电单元:450(W) x 640(D) x 450(H) mm |
探测器选配 |
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除厂家/中国总经销商外,我们找不到
日立高新扫描电子显微镜 FlexSEM 1000 II 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
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