装置概述
主要研究对象:目前材料、物理和化学研究的热点之一的二维薄膜材料体系。
主要功能:是用来测量热电薄膜的热电性质,包括电导和Seebeck系数。
2组成部分:主要由探针台和控制系统两部分组成。其中探针台包括四探针、变温台和光学显微镜;控制系统包括控温系统、电学性质测量设备和数据采集和分析系统。
主要特色:可以同时测定薄膜样品,例如单层石墨烯,的电导(四探针测量模式)和Seebeck系数;温度可从4K到400K连续可调;气氛可控。
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薄膜应力测试仪
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