RHEED-反射式高能电子衍射仪
tel: 400-6699-117 转 1000R-DEC俄歇电子能谱(AES), RHEED(反射高能电子衍射仪)是观察晶体生长最重要的实时监测工具之一。它可以通过非常小的掠射角将能量为10~30KeV......
在线客服
产品型号: RHEED
品牌:R-DEC
产品产地:日本
产品类型:进口
原制造商:R-DEC
状态:在售
厂商指导价格: 30~50万元[人民币]
上市时间: 2014-03-16
英文名称: RHEED
优点:RHEED(反射高能电子衍射仪)是观察晶体生长最重要的实时监测工具之一。它可以通过非常小的掠射角将能量为10~30KeV的单能电子掠射到晶体表面,通过衍射斑点获得薄膜厚度,组分以及晶体生长机制等重要信息。 因此反射高能电子衍射仪已成为MBE、PLD等系统中监测薄膜表面形貌的一种标准化技术。
参考成交价格: 30~50万元[人民币]
仪器导购
俄歇电子能谱(AES)
厂家资料
地址:北京海淀区学院路30号 科大天工大厦B座1408室
电话:400-6699-117 转 1000
经销商
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 RHEED-反射式高能电子衍射仪 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是,请告诉我们,我们的邮件地址是:sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
评论
我来点评售后服务
登记我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。
产品调查
查看标准
- JY/T 013-1996 电子能谱仪方法通则
- GB/T 41064-2021 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
- GB/T 29732-2021 表面化学分析 中等分辨俄歇电子能谱仪 元素分析用能量标校准
- GB/T 25187-2010 表面化学分析.俄歇电子能谱.选择仪器性能参数的表述
- GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪鉴定方法
- GB/T 25185-2010 表面化学分析.X射线光电子能谱.荷电控制和荷电校正方法的报告
- GB/T 22461-2008 表面化学分析.词汇
- GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
- GB/T 26533-2011 俄歇电子能谱分析方法通则
- ISO 21270:2004 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性