技术特点
【技术特点】-- ALW-QZXD 800型半自动寻峰X射线定向仪
该仪器为双工作台,左右工作台均能满足2~8寸晶片的测量,重复精度为±3“。测定单晶材料的峰位角,使用于工业生产的一般要求。
计算机分析系统由计算机、数据分析软件组成。对实时数据分析处理后得到的峰形曲线进行处理,进而得到峰位角,通过电脑屏幕以表格和曲线的形式显示,一般样品测一次需20秒左右(扫描范围≤2o),可测一次或者多次。该仪器测角精度为±15“,最小读书1“。
【技术特点对用户带来的好处】-- ALW-QZXD 800型半自动寻峰X射线定向仪
【典型应用举例】-- ALW-QZXD 800型半自动寻峰X射线定向仪
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