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EDX3600K X荧光光谱仪

tel: 400-6699-117 7000

天瑞仪器X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪), EDX 3600K X荧光光谱仪zei大的亮点在于它大铍窗超薄口的高分辨SDD探测器和自旋式的样品腔,产品通过了江苏省计......

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技术特点

【技术特点】-- EDX3600K X荧光光谱仪

性能优势:

1.超低能量分辨率,轻元素检测效果更佳
使用大面积铍窗电致冷SDD探测器,探测器分辨率zei低达到139eV,各项指标优于国家标准。SDD探测器具有良好的能量线
性、良好的能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比;对Si、S、AI等轻元素的测试具有良好的分析精度。

2. 测试精度更高,检出限更低
①专业化的样品腔设计,带可调速的自旋样品腔,能有效的测定轻元素和减少样品均一性的影响,提高样品的测试精度。
②采用超小超真空的样品腔设计,保证测试时达到10Pa以下,使设备的测试范围可从F元素起测试,大大地提高测试范围、轻元素检出限和精度。

3. 分析速度更快,从第1秒即可得到定性定量结果
采用自主研发的数字多道技术,其zei大线性计数率可达100kcps,可以更加快速的分析,从第1秒就可以得出定性定量结果,
设计成高计数率,大大提高了设备的稳定性。

4. 一键式智能化操作
专业软件,先进的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件,具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作,使操作简易,对操作人员限制小的特点。

5. 强大的自动化功能
①自动化程度高,具有自动开盖、自动切换准直器与滤光片等功能。
②采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性:利用解谱技术使谱峰分解,采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。

6. 强度校正法
具有多种测试模式设置和无限数目模式的自由添加,内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。

7. 完善的光路系统
自主研发的光路系统,光程更短,光路损失更少,激发效果更佳。

8. 三重安全防护功能
三重安全防护功能,自动感应,没有样品时仪器不工作,无射线泄漏;加厚防护测试壁;配送测试防护安全罩。

9. 安全警示系统
警告指示系统,通电时绿色指示灯亮,测试时黄色辐射指示灯闪烁,防止误操作。


【技术特点对用户带来的好处】-- EDX3600K X荧光光谱仪

采用公司zei新的能谱EDXRF软件,先进的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件,具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作,操作简易,对操作人员限制小的特点。
具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加,内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
全新的软件界面和内核,采用FP和EC软件组合的方法,应用面更加广泛。                                                            


【典型应用举例】-- EDX3600K X荧光光谱仪

  • 专为粉未冶炼行业研发的一款高端设备,主要应用在水泥冶炼、钢铁冶炼、矿冶炼(铜矿、铅矿等)、铝冶炼、玻璃制造、耐火材料分析、各种粉未冶金分析行业、石油勘探录井分析领域。
  • 同时在地质、矿样、冶金、稀土材料、环境监测、有色金属、食品、农业等科研院所、大专院校和工矿企业中也得到广泛应用。


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地址:江苏省昆山市中华园西路1888号

电话:400-6699-117 转 7000

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