【技术特点】-- SMPS+C 扫描电迁移率粒径谱仪

产品介绍

SMPS+C扫描电迁移率粒径谱仪（Scanning Mobility Particle Sizer）是一个纳米颗粒粒径谱分析系统，实验室型由DMA+CPC5416组成检测系统，19’机架式由DMA+CPC5420组成检测系统，用于5nm ~ 1100nm的纳米颗粒分析。GRIMM DMA符合Vienna型设计特征，对小颗粒物有最高分辨率和最低分散损失，根据实验需求不同，有两种长度的电极。  

                           图 5420机架式CPC

测量原理

DMA（Differential Mobility Analyzer）差分粒子电迁移器对颗粒物进行分类，喷嘴将粗的颗粒去除，减少大颗粒的干扰；同时建议前置个静电中和器，消除对电荷对气溶胶颗粒的影响。顶端入口U型设计，可减少颗粒损失；顶端层流器，使气流呈层流状态流动。洁净干燥的鞘气与样气气流一起自上而下流动。

DMA的外套筒接地，中心极杆接正压高压发生器。环境颗粒中带负电荷的颗粒将在外套筒与中心极杆之间的电场中发生迁移。在某一电压下(对应一定的电场强度)，具有一定荷质比的负电颗粒将迁移至DMA下端狭缝而逸出，其余荷质比及其电中性、正电荷颗粒将随过剩气流被过滤排出。经由狭缝逸出的颗粒为单分散气溶胶颗粒，进入CPC凝聚核粒子计数器（Condensation Particle Counters）对颗粒物进行计数。

图 系统工作原理

粒径范围

DMA根据粒径范围不同可以分为L-DMA、M-DMA和S-DMA。  

图 差分粒子电迁移器DMA                                                                图 三种型号DMA

测试结果可靠

在2005年8月和9月加利福尼亚州中部Fresno，GRIMM仪器与其他品牌的SMPS系统通过测量环境气溶胶进行测量结果比较。结果显示GRIMM SMPS+C测量得到的粒子数浓度分布，与其他品牌测量得到的平均值相比，是可靠的。【Comparison of four scanning mobility particle sizers at the Fresno Supersite (Chow 2006)】

产品特征

粒径总范围5 ~ 1094 nm

浓度范围可达到10⁷P/cm³

Vienna型DMA，L-DMA与M-DMA可互相切换

坚固可靠，丁醇安全特征（防水、除臭）

防溢出CPC饱和器设计

与软件联合使用，全自动；开机后自动自检，保证高可靠性

气象传感器的模拟输入

全面的自检以实现最高的可靠性

产品应用

基础气溶胶研究

吸入和暴露研究

环境和气候研究

NP增长、凝结及迁移研究

过滤检测

移动气溶胶研究

工作场所监测

操作软件

可用于纳米颗粒检测仪器的通用软件，可以记录测量数据和一系列完整的仪器参数。结果以图表形式显示，可以输出为通用的文件格式。软件将CPC作为计数器，差分电迁移分析仪（DMA）作为粒径分级的气溶胶发生器。实时进行数据处理，算法由Reischl教授（维也纳大学）开发，符合计算粒径分布的新标准ISO 15900。软件显示颗粒物数浓度、表面积和粒径质量分布及其他统计参数。

【技术特点对用户带来的好处】-- SMPS+C 扫描电迁移率粒径谱仪

【典型应用举例】-- SMPS+C 扫描电迁移率粒径谱仪