技术特点
【技术特点】-- 扫描电迁移率粒径谱仪
扫描电迁移率粒径谱仪
SMPS+C和SMPS+E双系统
GRIMM SMPS+C系统采用传统的差分电迁移率粒径分级器(DMA)和凝聚核粒子计数器(CPC)技术结合,两种不同型号的DMA可以同时检测5—350纳米或10—1100纳米的气溶胶的粒径分布。根据应用不同,可以选配移动式:CPC 5403,实验室固定式:CPC 5416 或 19英寸标准机柜式:CPC 5421。 系统每次开机时,自动自检以确保系统准确性,自检内容包括泄露测试、DMA 型号确认、 DMA 电压测试、CPC 状态检查等。 自检通过后,软件自动控制采样、测量和数据记录。
GRIMM SMPS+E系统采用差分电迁移率粒径分级器(DMA)和法拉第静电计(FCE)技术结合,配合3种不同的DMA,粒径检测下限可以低至1纳米,检测数量浓度高达109个/cm3。
【技术特点对用户带来的好处】-- 扫描电迁移率粒径谱仪
【典型应用举例】-- 扫描电迁移率粒径谱仪
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