仪器简介：
组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统，一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构，通过对各个单元的不同组合，可以进行各种测试。
主要特点：
组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品
主要的应用有：
1. 粉末样品的物相定性与定量分析
2. 计算结晶化度、晶粒大小
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
4. Rietveld结构分析
5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
7. 小角散射与纳米材料粒径分布
8. 微区样品的分析
快速
Ultima IV 是多功能X射线衍射仪的先进代表。他结合了理学公司zl的可永不拆卸CBO技术，永久对准，平行光与聚焦光灵活转换，Ultima IV X射线衍射仪可快速执行多种不同测量。
灵活
The Ultima IV 是当今市场唯一采用全自动校准的X射线衍射仪。CBO技术与自动校准相结合，使Ultima IV X射线衍射仪成为多功能应用的zei灵活系统。
实用
“也许X射线衍射仪用户面临的zei大挑战就是如何zei大限度地减少时间和精力为不同应用重新配置调整系统“ —Wade Adams, Ph.D., Director,
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在Ultima IV XRD 系统中, CBO 技术缩短了切换测角仪时花费的时间，使日常用户可以运行两组试验而无需重新设置系统，可以减少经常切换造成的磨损和光路损坏。
CBO 与自动校准相结合后功能如下：
粉末衍射
薄膜衍射
小角散射
In-plane散射
Ultima IV: 快速 • 灵活 • 实用
仪器简介：
组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统，一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构，通过对各个单元的不同组合，可以进行各种测试。
技术参数：
1. X射线发生器功率为3KW
2. 测角仪为水平测角仪
3. 测角仪最小步进为1/10000度
4. 测角仪配程序式可变狭缝
5. 高反射效率的石墨单色器
6. CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学独有）
7. 小角散射测试组件
8. 多用途薄膜测试组件
9. 微区测试组件
10. In-Plane测试组件（理学独有）
11. 高速探测器D/teX-Ultra
12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC
13. 分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等
主要特点：
组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品
主要的应用有：
1. 粉末样品的物相定性与定量分析
2. 计算结晶化度、晶粒大小
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
4. Rietveld结构分析
5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
7. 小角散射与纳米材料粒径分布
8. 微区样品的分析
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