XRD单晶X射线衍射仪

 主要技术参数：

 3.1 X 射线发生器和光路系统：

3.1.1 X 射线发生器最大输出功率: 3000W；

3.1.2 最大管电压/通道：60 KV；

3.1.3 最大管电流/通道：50 ma；

3.1.4 电流电压稳定度： 8 小时内变化不超过± 0.1%；

3.1.5 X 射线管保护：过电压、过电流、冷却水异常保护；

 3.2 测角仪：

3.2.1 类型: kappa 四圆测角仪，步进马达定位，四个角度均可自由转动，满足常规晶体结构分析和专业晶体学研究需要；

3.2.2 角度分辨率：Omega 和 Theta 0.0001 度，Kappa 0.001 度，Phi 0.001 度；

3.2.3 扫描速度范围 0.005 - 3.0 度/秒；

3.2.4 theta 臂具有通用性，与公司所提供的其他探测器兼容；

 3.3. 晶体对中监视系统：CCD 摄像头加放大镜头，安装在仪器内部用于样品对心与调整；

 3.4 探测器：DECTRIS Pilatus混合像素光子计数探测器；

3.5 高性能计算机实现仪器控制及数据采集；

3.6 系统控制和数据处理软件：包括控制、维护、数据收集、数据还原和数据分析程序，以及处理孪晶和晶面吸收校正等功能。收集数据和还原数据同步进行；

3.7 液氮低温系统：温度范围 120 - 400 K，控温精度：± 0.1 K。