XRD单晶X射线衍射仪

X射线单晶衍射仪

X-ray Single Crystal Diffractometer System

1．用途及特点：

测定新化合物（晶态）分子的准确三维空间（包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度）及分子在晶格中的实际排列状况；可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。它广泛用于化学晶体学、分子生物学、药物学、矿物学和材料科学等方面的分析研究。

精确测定无机物、有机物和金属配合物等结晶物质的三维空间结构和电子云密度，分析孪晶、无公度晶体、准晶等特殊材料结构；可精确测定无机分子、有机分子、矿质材料以及大生物分子的结构，提供全面的结构数据，并可按不同要求提供各种结构图、动态图。

2. 系统总体构成：

高性能混合像素光子直读探测器；

kappa 四圆测角仪；

X 射线金属陶瓷管（Mo 或 Cu）；

X 射线发生器；

单毛细管光学器件；

晶体样品液氮低温系统；

晶体样品监视系统；

X 光管的循环冷却水装置；

计算机控制系统；

系统控制和数据收集及数据分析软件。