JW-BK200B 高性能研究级双站介孔微孔分析仪性能参数
原理方法: | 静态容量法,低温气体吸附; |
测试功能: | 等温吸脱附曲线;单点、多点BET比表面积;Langmuir比表面积;外表面积(STSA);单点吸附总孔体积、平均孔径;BJH介孔大孔孔容积及孔径 分布分析;t-plot法、as- plot法、DR法、MP法微孔分析;HK法、SF法微孔精确分析;平均粒径估算;DFT法孔径分布分析;气体吸附量测试;等等 |
测试气体: | 氮、氧、氢、氩、氪、二氧化碳、甲烷、蒸汽等气体; |
测试范围: |
比表面:0.0001m2/g至无上限,孔径:3.5 Å-5000 Å; 孔体积测试范围:0.0001cc/g至无上限; |
重复精度: | 比表面积≤± 1.0%,孔径≤0.2 Å; |
测试效率: | 比表面积平均每样15-30min;介孔、大孔分析平均每样2-3小时;微孔分析平均每样10-15小时; |
分析站: | 2个完全独立样品分析站,可同位脱气; |
P0位: | 2个完全独立P0站; |
进气口: | 进气口:标配4个进气口,可扩展至16个 |
升降系统: | 2个样品分子站原位设有2套独立的升降系统,电动控制、自动控制,且互不干扰; |
真空系统: | 多通路并联抽真空系统,集装式模块化设计,真空抽速微调阀系统zl技术,可在2-200ml/s范围内自动调节; |
真空泵: | 进口双级旋片式机械真空泵(自动防返油)及内置式进口涡轮分子泵,极限真空度10-6Pa;可选配极限真空度高达10-8Pa的分子泵; |
脱气系统: | 同位、异位真空脱气预处理系统标准化设计,由单独的进口压力传感器控制,完全同分析位分开,可实时、准确测量脱气系统的真空度:2个独立加热包,2套独立 温控表,均可程序升温控制,升温阶数多达10阶,既可进行样品的同位脱气处理,也可进行样品的异位脱气处理;2个样品进行分析测试的同时,可以进行另外两 个样品的真空脱气处理; |
脱气温度: | 室温—400℃,精度±1℃;可选择配置更高温度的控制系统; |
压力传感: | 原装进口,1000torr、10torr、1torr(或0.1torr); |
分压范围: | P/P0 10-9-1; |
压力控制: | 平衡压力智能控制法,压力可控间隔<0.1KPa,吸附zei高压力点可自动控制; |
数据采集: | 以太网数据采集,采集速度快、精度高,兼容Windows 7/XP 32/64位系统; |
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