技术特点
【技术特点】-- CDE resmap 273 四探针面扫描电阻率电导率测试仪
产品特点:
操作简单、快速精确
电阻测量范围:1 mΩ/?? - 5 MΩ/??
典型应用:非晶硅/微晶硅和导电膜电阻率测量;选择性发射极扩散片;表面钝化片;交叉指样PN结扩散片;新型电极设计,如电镀铜电阻测量等
美国CDEzl技术: 可针对材料(不同材料、软硬薄膜或离子植入深或浅等条件,对下针状况最佳化。而此功能是可由软见操作,可有0.01mm 的分辨率,而非麻烦的硬件调整。
美国CDEzl技术: 可针对材料(不同材料、软硬薄膜或离子植入深或浅等条件,对下针状况最佳化。而此功能是可由软见操作,可有0.01mm 的分辨率,而非麻烦的硬件调整。
【技术特点对用户带来的好处】-- CDE resmap 273 四探针面扫描电阻率电导率测试仪
【典型应用举例】-- CDE resmap 273 四探针面扫描电阻率电导率测试仪
请扫描二维码查看详细参数
经销商
除厂家/中国总经销商外,我们找不到
CDE resmap 273 四探针面扫描电阻率电导率测试仪 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是,请告诉我们,我们的邮件地址是:sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
四探针测试仪
售后服务
我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。