技术特点
【技术特点】-- 嵌入式膜厚测试仪
产品特点:
? 自由搭配的光纤架构,可安装于生产线上、半导体晶圆研磨设备或真空镀膜设备中。
? 远端同步控制、高速多点同步测量等。
? 丰富多样的光学系统套件与应用软件,提供特殊环境下最理想的膜厚解决方案。
【技术特点对用户带来的好处】-- 嵌入式膜厚测试仪
【典型应用举例】-- 嵌入式膜厚测试仪
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