技术特点
【技术特点】-- FM-Nanoview1000AFM
主要功能特点
1、 扫描探头和样品台集成一体,抗干扰能力强;
2、 精密激光及探针定位装置,更换探针及调节光斑简单方便;
3、 采用样品趋近探针方式,使针尖垂直于样品扫描;
4、 马达自动脉冲控制驱动样品垂直接近探针,实现扫描区域精确定位;
5、 高精度样品移动装置,可自由移动感兴趣的样品扫描区域;
6、 带光学定位的CCD观测系统,实时观测与定位探针样品扫描区域;
7、 模块化的电子控制系统设计,便于电路的持续改进与维护;
8、 集成多种扫描工作模式控制电路,配合软件系统使用;
9、 弹簧悬挂式防震方式,简单实用,抗干扰能力强。
友好的软件界面和操作功能
1. 多通道图像同步采集显示,实时查看剖面图;
2. 多种曲线力-间距(F-Z)、频率-RMS(f-RMS)、RMS-间隙(RMS-Z)测量功能;
3. 可进行扫描区域偏移、剪切功能,任意选择感兴趣的样品区域;
4. 可任意选择样品起始扫描角度;
5. 激光光斑检测系统的实时调整功能;
6. 针尖共振峰自动和手动搜索功能;
7. 可任意定义扫描图像的色板功能;
8. 支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能;
9. 支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正;
FSM-AFM操作软件主要功能特点
1、可实时观测样品扫描时的表面形貌像、振幅像和相位像;
2、具备接触、轻敲、相位、摩擦力、磁力或静电力工作模式;
3、可自由选择图像采样点为256×256或512×512;
4、多通道图像同步采集显示,实时查看剖面图;
5、多种曲线力-间距(F-Z)、频率-RMS(f-RMS)、RMS-间隙(RMS-Z)测量功能;
6、可进行扫描区域偏移、剪切功能,任意选择感兴趣的样品区域;
7、可任意选择样品起始扫描角度;
8、激光光斑检测系统的实时调整功能;
9、针尖共振峰自动和手动搜索功能;
10、可任意定义扫描图像的色板功能;
11、支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能;
12、支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正;
13、支持样品图片离线分析与处理功能。
原子力显微镜广泛的应用
【技术特点对用户带来的好处】-- FM-Nanoview1000AFM
【典型应用举例】-- FM-Nanoview1000AFM
经销商
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