LFA 467 HyperFlash® - 技术参数
温度范围:-100°C ... 500°C,单一炉体
氙灯,zei大能量 10 J/Pulse(功率可调)
非接触式测量,IR 检测器检测样品上表面升温过程
数据采集速率:高达 2MHz(包括半升温信号检测,及 pulse mapping 技术)-- 对于高导热及薄膜样品,采样时间(约为半升温时间 10 倍)可低至 1ms,样品厚度zei薄可至 0.01 mm 以下(取决于具体的导热系数)
热扩散系数测量范围:0.01 mm2/s ... 1000 mm2/s
导热系数测量范围:< 0.1 W/(mK) ... 2000 W/(mK)
样品尺寸:
- 直径 6 mm ... 25.4 mm(包括方形样品)
- 厚度 0.01 mm ... 6 mm(样品的厚度要求取决于不同样品的导热性能)16 个样品位的自动进样器
20 多种支架类型
丰富的测量模式,适应各种类型的样品。如各向异性材料,多层模式分析,薄膜,纤维,液体,膏状物,粉末,熔融金属,压力下的测试,等等。
Zoom Optics 优化检测器的检测范围(zl技术)
zl保护的 pulse mapping 技术(US 7038209, US 20040079886, DE 10242741 – approximation of the pulse),用于脉冲宽度修正,可以提高比热值的测量精度
气氛:惰性、氧化性、静态/动态、负压
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