仪器简介：

          在工业及科研领域，经常需要对样品进行非破坏性的元素分析，同时对分析面积及灵敏度具有苛刻的要求，如RoHS分析，贵金属检测等。 黄金珠宝、牙科合金材料及其他稀有金属的分析要求高精度，非破坏性而且测量点小。德国斯派克分析仪器公司最新推出的SPECTRO MIDEX　X 射线荧光能谱仪正是满足了这一要求，可最迅速、准确地提供分析数据。根据市场要求，德国斯派克分析仪器公司对仪器进行了扩展而优化，使SPECTRO MIDEX 仪器在分析性能和使用灵活性方面独树一帜。 
　　SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统，集准直、聚焦、样品激发于一体，是功能强大的金属分析仪SPECTRO MIDEX　适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。样品室配有易于调节的样品台。通过20倍变焦摄像机可精确地确定测量位置。仪器配有计算机和专业化的软件，使操作极为简便。测量点直径为0.7mm,样品的总测量时间不超过100秒。在测定稀有金属合金中的金含量时,样品的测量精度为0.15%。SPECTRO MIDEX　也可满足快速分析的需要，在2分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析。 
　　SPECTRO MIDEX 不仅仅适用于珠宝行业、贵金属检验机构，海关商检、造币工业等，还可完成其它分析任务如：非破坏性检查，贵金属分选，电子线路及电气元件的分析等。

技术参数：

• 激发 
- Mo 靶X光管 
最大功率：30W,最大电压：48kV 
- 测量点尺寸 
Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm 


样品室 
- 可显示样品的摄像系统(可调焦) 
- 手动调节样品台，样品定位简便 
- 马达驱动精确移动的XYZ样品台， 
最大行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3’’(宽x深x高)， 
最大样品重量：3kg/6.6 lbs 

计算机 
- 外置式计算机系统，Windows 
操作系统， 
- 键盘，鼠标，显示器，打印机 
- 菜单式软件，光谱仪参数调整和 
数据评估及计算，元素成分及分布显示 


检测器 
- Peltier 冷却的Si 漂移检测器: 
Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2 
- 以Mn Kα线，在测量计数率为 
10，000脉冲计数时， 能量分辨率：FWHM< 160 eV 
- 微处理器控制的检测器和读出电路 
- 脉冲计数率可达250，000 cps 

光谱仪数据 
- 电压：95-120V/200-240V,50/60 Hz, 
- 光谱仪能耗：200W 
- 仪器尺寸 宽x 深 x 高，单位mm 
580x670x740 mm/22.8x26.4x29.1” 
- 底座尺寸宽x 深:500x550 mm/19.7x21.6 ” 
- 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根据不同配置 

分析 
- 用于合金元素分析的基本参数程序FP + 
- 塑料及复合材料的RoHS指令检测 

环境条件 
- 周围环境温度：5-30°C （41-85°F） 
在20-25°C （68-77°F）下，可达到标定仪器性能 
- 在 25°C (77°F)下相对湿度: 10-80 %，无冷凝，无蒸气腐蚀，防尘

主要特点：

        SPECTRO MIDEX X射线荧光能谱仪是最新推出的第三代zl产品，不仅可对样品的微小区域进行快速无损的检定，还可对超大样品的表面（面积可达EC标准线路板规格的2倍， 233x160 mm）进行元素分布分析。

1 超大样品室● 长：520 mm(20.5 '')● 宽：310mm(12'') 
2 微聚焦分析，不需要破坏 
3 自由样品台.

• 创新点 
• 1.附带FP实际金属、贵金属、RoHS分析、无卤化塑胶回归的检测曲线，集多种应用于一身。该曲线采用大量金属及贵金属标准样品绘制，代表性强，实用性强，准确度高。分析数据可同时显示K金值及含量。 
2.采用高分辨，高计数率，电制冷的SDD检测器，实际分辨率160eV，计数率高达250,000cps，非常适合高含量样品的分析。该计数器具有先进性及维护简单，无需繁琐而危险的液氮添加过程。 
3.激光配合CCD摄像机双定位，样品分析点可视，可调。定位精度高。分析点的照片可截屏，出具报告时可以粘贴在报告中。 
4.分析速度快，可在180秒内完成各类样品的分析任务 
5.可选配狭缝交换器，测试点的尺寸可调，由0.2毫米至3.3毫米。可同时分析同一样品的各个部分，一般分析点的尺寸为1毫米。 
6.可选配XYZ微米级精度全自动样品台，完成点，线，面扫描。一次测量过程可同时分别完成多个样品的分析。 
7.超大样品室，可完成超大样品的分析，样品的尺寸可以达到300*200*150mm（长*宽*高）。同时可完成超小样品1mm样品的分析