货号 | 产品规格 | 描述 | 灯 |
840-310800 | - | Evolution 350 分光光度计 | 闪烁氙灯 标准使用寿命:>5 年。如果不使用实时信号寿命更久。 保修期:3 年原厂替换件保修 |
产品规格 | - |
---|---|
基线平坦度 | ±0.0015 A (200–800 nm) 2.0 nm SBW,平滑 |
描述 | Evolution 350 分光光度计 |
检测器类型 | 双极硅光电二极管 |
Dimensions (L x W x H) | 53 x 61 x 38 cm / 20.8 x 24 x 14.9 in. |
漂移 | <0.0005 Abs/h,500 nm,2.0 nm SBW, 2 hr 预热 |
Electrical Requirements | 100–240 V, 50–60 Hz |
适用于(应用) | 学术,化工,食品和饮料,环境化学,工业质量保证/质量控制,材料科学,制药 |
灯 | 闪烁氙灯 标准使用寿命:>5 年。如果不使用实时信号寿命更久。保修期:3 年原厂替换件保修 |
噪声 | 光度0A:<0.00018 A1A: <0.00022 A2A: <0.00050 A500 nm, 2.0 nm SBW, RMS |
光学设计 | 改良 Ebert;样品和参考培养皿/附件位置双光束 |
Pharmacopoeia Compliance Testing | 波长精度: ±0.3 nm 190–900 nm 波长重复性: SD 10 meas.<0.1 nm 吸光度准确度:<±0.010A @ 1A, <±0.010A @ 2A 吸光度可重复性±0.0025A @ 1A 杂散光:198 nm,KCl>2A;220 nm,NaI >3A;300 nm,丙酮 >3A;340 nm,NaNO2 >3A波峰/波谷比 >1.8 @ 1 nm SBW 设置 |
Photometric Accuracy Instrument | 1A: ±0.004 A2A: ±0.004 A3A: ±0.006 A 采用可追溯 NIST 的中性密度滤光片在 546 nm 处测得。测试仪器性能时,用于合格/不合格判定的规格为此处列出的仪器规格,以及校准证书中列出的滤光片校准数据不确定数值之和。 |
Photometric Display | ±6 A |
Photometric Range | >4 A |
Photometric Repeatability | 1A: ±0.0025 A |
Scan Ordinate Modes | 吸光度,% 透射率,% 折射率,Kubelka-Munk, Log(1/R),Log(吸光度),ABS × 因子,强度,第 1–4 衍射率 |
光谱带宽 | 可选择 0.5、1.0、1.5、2.0、4.0 nm |
杂散光 | 198 nm: 2.4 A KCl 220 nm: 3.5 A NaI 340 nm: 4.0 A NaNO2 |
波长精度 | ±0.20 nm(546.11 nm Hg 发射光线),±0.30 nm 190–900 nm |
Wavelength Data Interval | 10, 5, 2, 1, 0.5, 0.2, 0.1, 0.05 nm |
波长范围 | 190–1100 nm |
波长重复性 | 10 次测量值<0.05 nm 的标准偏差 |
波长扫描速度 | 可变,zei多 6000 nm/分钟 |
重量(英制) | 48.5 磅 |
重量(公制) | 22 kg |
Beam Center Height | 8.5 mm |
货号 | 产品规格 | 描述 | 灯 |
912A0959 | - | 配有汞灯的Evolution 350 紫外-可见分光光度计 | 闪烁氙灯 标准使用寿命: >5 年。如果不使用实时信号寿命更久。 保修期:3 年原厂替换件保修 低压汞蒸气灯 进行性能验证(PV)测试时使用,用以保证波长精确度和光谱带宽。 |
产品规格 | - |
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应用 | 学术,化工,食品和饮料,环境化学,工业质量保证/质量控制,材料科学,制药 |
基线平坦度 | ±0.0015 A (200–800 nm) 2.0 nm SBW,光滑 |
描述 | 配有汞灯的Evolution 350 紫外-可见分光光度计 |
检测器类型 | 双极硅光电二极管 |
Dimensions (L x W x H) | 53 x 61 x 38 cm / 20.8 x 24 x 14.9 in. |
漂移 | <0.0005 Abs/h,500 nm,2.0 nm SBW, 2 hr 预热 |
Electrical Requirements | 100–240 V, 50–60 Hz |
灯 | 闪烁氙灯 标准使用寿命: >5 年。如果不使用实时信号寿命更久。 保修期:3 年原厂替换件保修 低压汞蒸气灯 进行性能验证(PV)测试时使用,用以保证波长精确度和光谱带宽。 |
噪声 | 测光 0A:<0.00018 A 1A:<0.00022 A 2A:<0.00050 A 500 nm, 2.0 nm SBW, RMS |
光学设计 | 改良 Ebert;样品和参考培养皿/附件位置双光束 |
Pharmacopoeia Compliance Testing | 波长精度:±0.3 nm 190–900 nm 波长重复性:SD 10 meas.<0.1 nm 吸光度准确度:<±0.010A @ 1A, <±0.010A @ 2A 吸光度可重复性±0.0025A @ 1A 杂散光:198 nm,KCl >2A;220 nm,NaI >3A;300 nm,丙酮 >3A;340 nm,NaNO2 >3A 分辨率:波峰/波谷比 >1.8 @ 1 nm SBW 设置 |
Photometric Accuracy Instrument | 1A: ±0.004 A 2A: ±0.004 A 3A: ±0.006 A 采用可追溯 NIST 的中性密度滤光片在 546 nm 处测得。测试仪器性能时,用于合格/不合格判定的规格为此处列出的仪器规格,以及校准证书中列出的滤光片校准数据不确定数值之和。 |
Photometric Display | ±6 A |
Photometric Range | >4 A |
Photometric Repeatability | 1A: ±0.0025 A |
Scan Ordinate Modes | 吸光度,% 透射率,% 反射率,Kubelka-Munk,Log(1/R),Log(吸光度),ABS × 因子,强度,第 1-4 衍射率 |
光谱带宽 | 可选择 0.5、1.0、1.5、2.0、4.0 nm |
杂散光 | 198 nm: 2.4 A KCl 220 nm: 3.5 A NaI 340 nm: 4.0 A NaNO2 |
波长精度 | ±0.20 nm(546.11 nm Hg 发射光线),±0.30 nm 190–900 nm |
Wavelength Data Interval | 10, 5, 2, 1, 0.5, 0.2, 0.1, 0.05 nm |
波长范围 | 190–1100 nm |
波长重复性 | 10 次测量值<0.05 nm 的标准偏差 |
波长扫描速度 | 可变,zei多 6000 nm/分钟 |
重量(英制) | 48.5 lbs |
重量(公制) | 22 kg |
Beam Center Height | 8.5 mm |
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