FEI Inspect S50 扫描电子显微镜
tel: 400-6699-117 转 8899FEI扫描电镜SEM, 高稳定性、高亮度钨灯丝电子枪以及独特的LFD低真空二次电子探测器......
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产品型号:FEI Inspect S50
品牌:FEI
产品产地:美国
产品类型:进口
原制造商:FEI
状态:在售
厂商指导价格: 200万元[人民币]
上市时间: 2007年
英文名称:SEM
优点:高稳定性、高亮度钨灯丝电子枪以及独特的LFD低真空二次电子探测器
参考成交价格: 200万元[人民币]
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扫描电镜SEM
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- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 扫描电子显微镜 用于扫描电子显微镜(TIFF/SEM)的标记图像文件格式
- JIS K 0132:1997 扫描电子显微镜总则
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.扫描电子显微镜.定量测量用扫描电子显微镜的鉴定
- JJF 1916-2021 扫描电子显微镜校准规范
- JJG(教委) 11-1992 扫描电子显微镜检定规程
- JB/T 6842-1993 扫描电子显微镜试验方法
- KS I 0051-2019 扫描电子显微镜的一般规则
- KS D ISO 22493-2022 微束分析.扫描电子显微镜.词汇
- KS M 0044-1999 扫描电子显微镜的一般规则
- GB/T 33834-2017 微束分析 扫描电子显微术 生物试样扫描电子显微镜分析方法