技术特点
【技术特点】-- 蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜
低加速电压时的超高分辨率二次电子和背散射电子成像
用于在纳米尺度上实现组分衬度成像的高效EsB / AsB探测器
精确控制的超大自动优中心(eucentric)样品台
背散射电子和二次电子信号的实时成像与混合功能
抑制不导电样品的荷电效应
用于X射线分析和背散射电子衍射(EBSD)应用的超稳定束流模式
【技术特点对用户带来的好处】-- 蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜
【典型应用举例】-- 蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜
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