NanoCalc薄膜反射光谱仪系统
tel: 400-6699-117 转 6600海洋光学白光干涉测厚仪, 薄膜的光学特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射测量系统可以用来进行10nm~250µm的膜厚分析测......
在线客服
产品型号:NanoCalc
品牌:海洋光学
产品产地:美国
产品类型:进口
原制造商:海洋光学
状态:在售
厂商指导价格: 1~50000元[人民币]
上市时间: 2012-08-30
英文名称:NanoCalc
优点:薄膜的光学特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射测量系统可以用来进行10nm~250µm的膜厚分析测量,对单层膜的分辨率为0.1nm。根据测量软件的不同,可以分析单层或多层膜厚。
参考成交价格: 1~50000元[人民币]
其他推荐
厂家资料
地址:上海市长宁区古北路666弄嘉麒大厦601室
电话:400-6699-117 转 6600
经销商
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 NanoCalc薄膜反射光谱仪系统 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是,请告诉我们,我们的邮件地址是:sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
评论
我来点评售后服务
登记我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。
产品调查
查看标准
- ASTM E2244-05 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法
- ASTM E2246-11 用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
- ASTM E2245-02 用光学干涉仪测量反射薄膜残余应力的标准试验方法
- ASTM E2245-05 用光学干涉仪测量反射薄膜残余应力的标准试验方法
- ASTM E2244-11 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法
- ASTM E2244-02 用光学干涉仪测量反射薄膜共面长度的标准试验方法
- ASTM E2246-05 用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
- ASTM E2246-02 用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
- ASTM E2244-11(2018) 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法
- ASTM E2244-11e1 采用光学干涉仪测量反射薄膜共面长度的标准试验方法