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X荧光光谱仪EDX660

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天瑞仪器X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪), 专业贵金属检测、便携、灵敏度高、智能化软件

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分析范围:30%---99.99%

测量时间:60---300 秒

测量精度:0.1%---99.99%

测量范围:Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd、Rh、Cd、Ru 、Pt

重 量:30KG

尺 寸:350*500*400mm

X射线源:X射线光管。

探测器:正比计数管

仪 器 配 置:

  • 单样品腔

  • 正比计数器

  • 放大电路

  • 高低压电源

  • X光管


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