技术特点
【技术特点】-- X荧光光谱仪EDX860D
仪器介绍
本仪器专门针对贵金属测试,可测试环形样品内壁及普通平面测试,具有以下特点:体积小巧,外型庄重大方,手动升降平台满足不同大小样品的测试,样品固定方便快捷,可方便更换准直器,准直器直径为1.5mm,可测试较小区域,下照式,大窗口正比计数盒保证计数率满足分析需要,宽阔样品腔可满足较大样品的测试,摄像头激光精确定位实现可视化定位,良好的射线屏蔽确保操作人员。
性能特点
1.大功率光管;
2. 超大窗口面积正比计数盒;
3. 外型小巧,庄重大方;
4. 宽阔样品腔,方便操作及测试较大样品;
5. 手动升降平台确保测试不同大小环状样品;
7.小准直器,利于测试样品小区域;
8. 摄像头与激光定位,可视地准确定位到被测点,测试时激光点自动关闭,利于拍摄清晰照片;
9. 良好的射线屏蔽确保操作人员的安全。
【技术特点对用户带来的好处】-- X荧光光谱仪EDX860D
针对贵金属测试,可测试环形样品内壁及普通平面测试
体积小巧,外型庄重大方
手动升降平台满足不同大小样品的测试,
样品固定方便快捷
【典型应用举例】-- X荧光光谱仪EDX860D
- 首饰加工厂、金银珠宝首饰店、典当行
- 贵金属冶炼厂
- 质量检验部门
- 分析测试中心
【制造商和产品历史介绍】
本仪器专门针对贵金属测试,可测试环形样品内壁及普通平面测试,具有以下特点:体积小巧,外型庄重大方,手动升降平台满足不同大小样品的测试,样品固定方便快捷,可方便更换准直器,准直器直径为1.5mm,可测试较小区域,下照式,大窗口正比计数盒保证计数率满足分析需要,宽阔样品腔可满足较大样品的测试,摄像头激光精确定位实现可视化定位,良好的射线屏蔽确保操作人员。
X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪)
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